最新ニュース
January 31, 2012
カールスルーエ工業大学Dr Clemens Franzグループの最新の研究成果を報告します
January 17, 2012
ベルリン・フンボルト大学でのグラフェンの特性測定December 7, 2011
難しいAFMサンプルに効果的なQI™ アドバンスト定量イメージングNovember 8, 2011
メルケル首相が、 ベルリンのMax-Delbrück-センター訪問中にJPKの原子間力顕微鏡NanoWizard® を見学しましたOctober 18, 2011
第10回JPKライフサイエンスにおけるSPM・光ピンセット国際シンポジウムへの 多数のご参加有難うございました次回イベント
2月5-9日
ACMM 22 / APMC 10 / ICONN 2012, Perth, Australia. See the NanoWizard® AFM.
最新製品情報
QI™ mode - 測定困難なサンプルを
簡便に測定するNanoWizard® 3 AFM シリーズ用定量イメージング
Imprint
JPK Instruments AG
Bouchéstrasse 12
Haus 2, Aufgang C
12435 Berlin, Germany
Tel. +49 30 5331 12070
Fax +49 30 5331 22555
Email office@_delete.this.part_jpk.com
Handelsregister
Amtsgericht Berlin-Charlottenburg
Registernummer
HRB 75513
UST-ID
DE813016413
Vorstand
Torsten Jähnke
Frank Pelzer (Vorsitzender)
Jörn Kamps
René Grünberg
Aufsichtsratsvorsitzender
Dr. Franz-Ferdinand von Falkenhausen